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DIN EN 60749-11-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法

   日期:2020-10-15     来源:互联网    作者:admin    浏览:7    评论:0    
核心提示:标准编号: DIN EN 60749-11-2003中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法代替标准号: DIN

标准编号: DIN EN 60749-11-2003

中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法

代替标准号: DIN EN 60749-2002,

中国标准分类号: L40

标准关注次数: 37次

标准上传日期: 2010-9-18

发布日期: 2003-04

实施日期: 2003-04-01

英文标准名称: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002

采用国际标准号: EN 60749-11-2002,IEC 60749-11-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法,IDT,

标准类别: 德国标准

标准页数: 10P.;A4 页

 
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